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地址：綿陽(yáng)市涪城區飛云大道中段120號附1號磁通計如何克服高斯計的點(diǎn)測試局限性？
點(diǎn)擊量：發(fā)布時(shí)間：2025-05-30 10:43
磁通計通過(guò)測量磁體的整體平均值，而非單一測試點(diǎn)，從而克服了高斯計的點(diǎn)測試局限性。
高斯計是一種常用的磁場(chǎng)測量?jì)x器，它可以測量磁性材料或物體表面的磁場(chǎng)強度，通常以高斯（Gs）為單位。然而，高斯計存在一些局限性，例如它的測量結果受到探頭位置、探頭芯片的厚度和位置等因素的影響，而且由于磁體表面磁場(chǎng)的不均勻性，高斯計的測量結果可能會(huì )有很大偏差。此外，不同廠(chǎng)家生產(chǎn)的高斯計可能存在測量值不一致的問(wèn)題。
相比之下，磁通計則是通過(guò)測量磁體的整體平均值來(lái)反映磁體的整體性能。它利用電子積分原理，通過(guò)線(xiàn)圈檢測磁性材料或物體的整體性能，單位通常是韋伯（Wb）。磁通計的優(yōu)點(diǎn)在于它可以提供更加穩定和可比的測量結果，因為它是測量整個(gè)磁體的磁通量，而不是單一測試點(diǎn)的磁場(chǎng)強度。這樣，即使磁體表面的磁場(chǎng)分布不均勻，磁通計也能給出一個(gè)代表磁體整體性能的平均值
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